Система для подготовки образцов методом замораживания-скалывания Leica EM BAF060

Артикул:Leica EM BAF060

Производитель: Leica Microsystems, Германия

Leica EM BAF060 – система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) методом замораживания-скалывания, дальнейшего травления и последовательного покрытия скола тонким слоем испаренного углерода и металла.

Особенности

При совместном использовании с Leica EM VCT100, может проводиться репликация образца (для CryoSEM исследований) путем оттенения металлами (термическое испарение металла) и осаждение его в виде слоя на образце. К функциональным особенностям Leica EM BAF060 можно отнести наличие микротома и двух независимых электронно-лучевых испарителя. Моторизованный микротом и специальная заслонка, предотвращающая загрязнение, позволяет получать результаты с высокой повторяемостью. Размещение образцов и электронно-лучевых испарителей в одной вакуумной камере позволяет избежать загрязнения образцов. Высокая точность процесса напыления пленок без термического повреждения образца.