Система трехлучевого ионного травления материалов Leica EM TIC3x

Артикул:Leica EM TIC3x

Производитель: Leica Microsystems, Германия

Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для СЭМ и АСМ исследований, а также проведения EDS (энергодисперсионный элементный анализ), WDS (волнодисперсный элементный анализ), Auger (анализ оже-электронов) и EBSD анализа (дифракция обратно рассеянных электронов). Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску.

Видео

Обзор Leica EM TIC 3X