Универсальная система для механической подготовки поверхности Leica EM TXP

Leica EM TXP – универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для ПЭМ и СЭМ и АСМ исследований. Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой. Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора. После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.